Федеральная информационная площадка

Устройство автоматического тестирования цифровых микросхем

Актуальность разработки

Цифровые интегральные микросхемы применяют в устройствах обработки дискретной информации электронно-вычислительных машин (ЭВМ), системах автоматики и т. п. [1]. Потребитель заинтересован в поставках качественной элементной базы. Ведь отказ в работе одного компонента может привести к катастрофическим последствиям. Поставщик не всегда  гарантирует качества поставляемых компонентов и не может служить критерием оценки работоспособности того или иного элемента. Не имея в своём распоряжении измерительного и испытательного оборудования,  потребитель зачастую ограничивается лишь проверкой внешнего вида компонента. Однако для каждого элемента должен быть проведён комплекс испытаний на соответствие требуемым характеристикам. Поэтому необходимо иметь  устройство способное протестировать необходимый элемент.

Существующее на сегодняшний день тестовое оборудование для контроля качества цифровых микросхем не удобны для частного пользования, так как имеют большие массагабариты и сложность в эксплуатации, или же наоборот, малые размеры, но возможность тестирования только определённые серии ЦИМ.

На рисунке представлен пример одного малогабаритного тестера. 

Принцип работы

Разрабатываемый прибор для тестирования цифровых микросхем будет включать в себя  в себя DIP-панель, SOIC-панель, для возможности проверки микросхема в разных корпусах. Работа устройства будет происходить следующим образом: пользователь на персональном компьютере (ПК) с помощью специального программного обеспечения (ПО) выбирает необходимую микросхему. После этого выбранные пользователем данные отправляются с ПК на устройство. После получения необходимых данных МК отправляет тестовые сигналы на DIP-панель или SOIC-панель, далее происходит считывание с необходимых ножек выходные сигналы с микросхем и проверяет правильность их работы. Таким образом, устройство проверяет таблицу истинности цифровой микросхемы. После этого результат тестирования отправляются в ПК и отражаются его в рабочем окне программы.


Достигнутые результаты

На данный момент уже достигнуты некоторые результаты, а именно:

  • Был подобран микроконтроллер, главный элемент который будет обрабатывать поступающие на устройство команды, а также производить тестирование и обработку полученной информации для отправки её на компьютер
  • Создан алгоритм и система команд для удалённой настройки микроконтроллера для тестирования схем.
  • Начата разработка алгоритма тестирования базовых цифровых схем.
  • Спроектирован и собран вспомогательный источник питания для обеспечения необходимого напряжения питания для микросхем ТТЛ и КМОП логики.
Участники проекта